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La diffraction coherente des rayons X: Application l'etude de defauts
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La diffraction coherente des rayons X: Application l'etude de defauts topologiques dans les structures atomiques et electroniques (French Edition) Paperback - 2010

by Vincent Jacques


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La diffraction cohrente des rayons X est une technique relativement rcente, qui permet de raliser des mesures de dynamique de fluctuations dans la matire dure ou molle, ou de reconstruire les configurations de l'espace rel l'aide d'algorithmes bass sur des calculs de transforme de Fourier. Nous montrons ici que cette technique peut tre applique l'tude de dfauts de phase isols tels que des dislocations et que ceux-ci peuvent tre reconstruits sans algorithme. Il apparat que la technique peut en principe surpasser en rsolution la topograhie X, technique de choix pour les tudes de volume. Des boucles de dislocation du silicium ont ainsi t images. Nous montrons galement que de relles conclusions physiques peuvent tre tires, travers l'tude de dfauts de phase de structures lectroniques dans des systmes dveloppant des ondes de densit de charge et de spin. Le chrome, le bronze bleu de molybdne K0.3MoO3 et NbSe3 font partie des systmes tudis dans ce travail. Un certain nombre de questions lies la structure statique et dynamique de ces cristaux lectroniques sont souleves, et des modles thoriques sont proposs.

Details

  • Title La diffraction coherente des rayons X: Application l'etude de defauts topologiques dans les structures atomiques et electroniques (French Edition)
  • Author Vincent Jacques
  • Binding Paperback
  • Language ENG
  • Publisher Editions universitaires europeennes
  • Date 2010-07
  • ISBN 9786131509230
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La diffraction coherente des rayons x

La diffraction coherente des rayons x

by Jacques, Vincent

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Editions universitaires europeennes, 2010-07-26. Paperback. Like New. Unread. Spine uncreased. The cover has some light shelf wear with slightly curled bottom corners
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